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性能测试2019

1卷刊出日期 2019-12-17

电子产品高温试验箱的温度场分析及优化

作者：孙琦，于兰英，吴文海

DOI:10.11857/j.issn.1674-5124.2018080084

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环境磁场对磁记忆检测信号的影响研究

作者：陈海龙^1,2，崔子浩¹，吴奇¹，熊湘曦¹ ，何洋¹，王长龙²

DOI:10.11857/j.issn.1674-5124.2019030041

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吸声尖劈高频声学特性比较评价法

作者：高申平^1,2，张小改¹，吴德林^1,2，余崇皓¹，陈俭^1,2，俞醒言^1,2

DOI:10.11857/j.issn.1674-5124.2019020006

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